×

搜索查询

搜索

产品中心

product center

产品中心

/
/
/
大行程一键闪测仪PZ-200M
浏览量:
412

大行程一键闪测仪PZ-200M

产品简介:PZ-200M大行程一键闪测仪核心结构是自动升降聚焦系统,搭配无限远心光学系统镜筒和千万级工业数字相机、具有165mm x 115mm测量区域的固定载物台系统。在进行检测产品时,首先将需要检测的工件置于光学测量系统的工作台面上,自动调出需要检测产品的检测程序,通过对图像进行连续处理,完成检测需求,获得极高的检测速度。
所属分类: 一键式闪型测量仪
留言咨询
详情

产品名称:大行程一键闪测仪

产品型号:PZ-200M

品牌名称:品智创思


 一、产品概述:

PZ-200M大行程一键闪测仪核心结构是自动升降聚焦系统,搭配无限远心光学系统镜筒和千万级工业数字相机、具有165mm x 115mm测量区域的固定载物台系统。在进行检测产品时,首先将需要检测的工件置于光学测量系统的工作台面上,自动调出需要检测产品的检测程序,通过对图像进行连续处理,完成检测需求,获得极高的检测速度。

插图1.png

作为高速、非接触式精密光学检测设备,核心优势是 “一键触发、秒级测量、批量适配”,凭借无需复杂定位、自动识别特征、多尺寸同步检测的特点,广泛应用于精密制造各行业,尤其适配 “大批量、大尺寸、高精度” 的质检需求。


 二、仪器特点:

传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等,在测量时面临诸多问题,如:测量对象的定位、原点定位费时,批量测量操作时间长,不同测量人员导致测量结果不同,数据统计管理繁杂等。图像拼接系列一键式测量仪将扫清传统测量仪器在检测方面的难题,其优势为:

● 自动匹配

同一品类产品一次编程, 程序保存, 测量时自动匹配;

● 自动测量

可与机械手臂进行配合, 实现全自动测量;

● 校准简单

仅需一个功能校准键, 多角度、全方位、全视野校准, 保证测量精度;

● 使用简单

人性化、智能化的软件设计, 无需用户过多的操作, 易学、易用、易上手;

● 测量功能

点、线、圆、圆弧、角度、点线距离、线线距离、圆圆距离等二维尺寸测量;

● 数据自动保存

测量的结果自动保存到电脑, 包括测量日期, 产品的批号等信息;

● 轮廓扫描

快速扫描轮廓,并导出DXF文件。


 三、技术参数:

1、外形尺寸:X:800mm   Y:1050mm    Z:1500mm

2、相机:2000万CCD工业相机

3、仪器重量:200(KG)

4、软件:INS-FS

5、光学倍率:0.075X

6、镜  头:双远心镜头

7、光  源:程控式平行光或远心平行光照明,各段亮度独立控制

8、视野:165*115mm

9、对焦方式:手动\自动

10、测量误差:±5.0+L/100um

11、重复测量精度:±2.0um

12、电源电压:AC100-240V 50/60HZ

13、测量功能:点、线、圆、多点线、多点圆、自动圆、弧、多段圆、自动R角、轮廓扫描、定点,峰值线、圆等

14、标注功能:对齐标注、垂直标注、角度标注、半径/直径标注

15、形位公差:直线度、真圆度、对称度、轮廓度等

16、虚拟构造:中心线、平分线、切点、圆线切点、圆圆中心、线线中心等

17、自动模板匹配:支持

18、报表功能:SPC分析报告(CPK,CA,PPK,CP,PP值)

19、软件定制:CAD导入轮廓曲线分析,自动化管理链接,APP管理应用

20、检测数量:99个尺寸/秒

21、模板数量:不限

22、电  压:AC100-240V 50/60Hz

23、工作环境:温度23℃±2℃  湿度20%到80% RH


 四、测量软件:

INS-FS一键拼接闪测软件(以下简称“INS-FS软件”)具有界面简洁、操作直观、易上手、功能强大等诸多特点,用户可以通过该软件快速、高效地完成海量测量工作任务。

插图.png

INS-FS软件拥有两大典型工作界面:编程界面、测量界面。

编程界面主要供用户进行测量程序的编制准备操作,测量界面专供用户进行测量程序的运行以及测量结果显示。两种界面分工不同,各有侧重,从而将测量程序编制与执行批量测量任务区分开来,可防止因人为误操作导致的测量程序设置异常,保证机台稳定性,提升综合检测效率。

7bc26cfa-20ce-4164-bb71-b8b6fefd71bb.png

可对点、线、圆弧、圆、矩形、椭圆、键槽(腰型特征)、开曲线、闭曲线、平面、圆柱、圆锥、球等几何元素进行测量。当Z轴增加测头或激光位移传感器等设备后还可对3D图形元素如圆柱、圆锥、圆球、以及三维空间内的面进行测量。根据元素的实际特征,每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。

插图2.png

*特别声明:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。本产品资料仅用于学术分享和传递行业相关信息。未经授权,不得抄袭、篡改、引用、转载等侵犯相关权益的行为。内容仅供参考,如涉及版权问题,敬请联系,我们将在第一时间核实并处理。

相关产品

共面性测试仪PZ-430D
共面性测试仪PZ-430D
产品简介:共面性测试仪PZ-430D,集成微米级高精度的激光线扫3D测量与视觉影像测量功能,适用于多种封装类型芯片的焊球和引脚共面性的 微米级测量,如BGA封装的焊球共面性测量,SOP、QFP、TSSOP等封装的引脚共面性测量,焊球直径、引脚宽度、间距测量, 同时也可用于PCB 板及其器件的宽度、高度、位置度、平面度等测量。
芯片共面度检测仪PZ-430C
芯片共面度检测仪PZ-430C
产品简介:芯片共面度检测仪PZ-430C采用固定龙门式XYZ三轴运动结构,内部主体框架为大理石,可以保证稳定的力学结构,是半导体封装与 SMT 产线的核心质检设备,用于非接触、高精度测量 BGA/QFP/QFN/SOP 等封装的引脚 / 焊球高度差,确保回流焊后无虚焊、翘脚,精度通常达微米级。所有引脚 / 焊球的最低点与基准平面的最大高度差,是 SMT 焊接可靠性的关键指标,快速判定引脚是否翘曲、变形,避免焊接不良,是封装后、贴装前的必检工序。
翘曲度测量仪PZ-300E
翘曲度测量仪PZ-300E
产品简介:翘曲度测量仪PZ-300E采用悬臂式三轴运动结构,内部主体框架为花岗岩大理石,可保证稳定的力学结构。被测工件可被放置于玻璃工作台上,通过有效的三维运动控制,叠加3D线扫激光位移传感器与影像模块(相机+镜头+光源)的组合式工作模式,便可实现对目标产品平面、高度方向尺寸全方位测量。
半导体外观尺寸测量仪PZ-323S
半导体外观尺寸测量仪PZ-323S
产品简介:半导体外观尺寸测量仪PZ-323S是一类专为半导体器件(晶圆、芯片、封装件、引脚框架等)设计的非接触 / 微接触精密光学 / 激光测量设备,核心是快速、无损获取平面尺寸(长、宽、直径、线宽、间距)、2.5D/3D 形貌(高度、台阶、翘曲、厚度偏差)及外观缺陷(划痕、崩边、脏污),精度从亚微米到纳米级,是半导体制造全流程质控的核心设备。
非接触光学粗糙度轮廓仪PZ-30LS
非接触光学粗糙度轮廓仪PZ-30LS
产品简介:非接触光学粗糙度轮廓仪PZ-30LS是一种通过彩色激光光源发射出一束高密度宽光谱光,通过色散镜头后,在量程范围内形成不同波长的单色光,每个波长对应一个距离值。测量光射到物体表面反射回来,只有满足共聚焦条件的光,可以通过小孔被光谱仪感测到。通过计算被感测到光的焦点的波长,换算获得距离值。它被广泛应用在各种不同的精密产业中如油墨厚度测量,MLCC厚度测量,厚膜电路测量,银浆厚度测量,激光刻蚀测量,涂胶厚度测量,半导体、特种材料表面粗糙度测量,院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可

需求留言

Need to leave a message

留言应用名称:
客户留言
描述:
点击换一张
×

CopyRight © 2025北京品智创思精密仪器有限公司 All Rights Reserved.

网站建设: 想象力