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三维光学轮廓测量仪PZ-542C
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三维光学轮廓测量仪PZ-542C

产品简介:三维光学轮廓测量仪PZ-542C采用龙门结构美观大方,操作简便,结合本公司自主研发的测量软件,可实现准确的元器件共面性、工件外形尺寸等测量,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求。广泛应用于晶元、芯片(DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA)等共面性检测,机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业,可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测,从而完成自动拾取、自动分选、零件检测、外形测量、过程控制等任务。
所属分类: 电子行业精密测量方案
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产品名称:三维光学轮廓测量仪

产品型号:PZ-542C

仪器厂家:品智创思

注释:更多详细产品信息,请联系我们获取


 一、产品概述:

三维光学轮廓测量仪PZ-542C采用龙门结构美观大方,操作简便,结合本公司自主研发的测量软件,可实现准确的元器件共面性、工件外形尺寸等测量,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求。广泛应用于晶元、芯片(DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA)等共面性检测,机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业,可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测,从而完成自动拾取、自动分选、零件检测、外形测量、过程控制等任务。

插图.png

首先,通过影像测量模块识别产品外形边缘并建立测量基准坐标系,进而实现对目标产品基本平面尺寸的测量,包含对异形产品整体外形轮廓扫描(例如:IC芯片引脚)。其次,使用3D线扫激光传感器,对目标产品表面进行大面积整体区域扫描,采集出产品表面三维点云数据,并由软件处理生成工件表面3D趋势图形,再通过软件特定功能算法,提取3D趋势图中特定抽样特征群体位置的高度极大值,进而可以求出产品自身平面度、共面性、曲翘度等特性。

二、技术参数:

1、X/Y/Z轴有效测量行程:500*500*200mm;

2、分辨率:0.5µm;

3、X/Y轴定位精度:±3µm;

4、载物台承重:≤30kg;

5、程控光源组合:透射轮廓底光源、表面落射光源、同轴光源;

三、功能特点:

1. 简洁友好的界面

将主要及常用的功能以按钮形式放在主界面,易于熟悉掌握,用户只要简单的点击和拖拽鼠标即可完成几乎所有的测量动作。

插图-11.png

2. 直观方便的扫描设定

软件线扫界面提供实时动态的激光轮廓线坐标图形,特别易于观察及选取扫描位置。无论多大的工件,只需设定起点和终点坐标,即可自动扫描。点击鼠标即可获取目标区域范围内的高点,低点,和平均点,3D点云图可提供彩色图,黑白图,及3D图。

3. 软件提供完整的几何测量功能

视觉测量可对点、线、圆弧、圆、矩形、椭圆、键槽(腰型特征)、开曲线、闭曲线、平面、圆柱、圆锥、球等几何元素进行测量。当Z轴增加测头或激光位移传感器等设备后还可对3D图形元素如圆柱、圆锥、圆球、以及三维空间内的面进行测量。根据元素的实际特征,每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。

4. 灵活的用户程序编制及形位公差设置

软件根据用户测量步骤顺序自动编制用户程序。并控制程序的运行停止等。可以对用户程序每个步骤进行编辑、排序、插入、删除等操作,适应复杂多变的测量步骤。测量大批量工件时,只需进行一次寻边测量,避免重复动作,省时省力,一次编程即可实现同规格的批量自动测量。软件提供完整的公差设定和计算功能,可设定和计算形位公差如直线度,圆度,平面度、圆柱度,轮廓度、位置度、平行度、垂直度、同心度、圆跳动等。并自动判别公差是否OK或NG,并具备NG示警及提示功能。形象化的公差图表使用户获知具体超差位置,方便查找超差原因。

5. 应用于批量测量的工件阵列功能

阵列功能可以适用于放置于料盘上等间距的工件批量测量,只需要对一个工件进行编程后,即可一键自动测量料盘上的所有工件。

插图-12.png

6. 多样化的数据报表及图形数据导出功能

软件可将结果数据以多种报表格式导出,可将测量结果数据导出为EXCEL,WORD,TXT格式的报表,并支持EXCEL报表格式设置功能。

7. 丰富开放的外设连接功能

软件支持连接接触式测头、点或线激光位移传感器、光谱共焦位移传感器、机械手等外接设备,并且能将这些设备整合在一起,更精确的测量工件的高度及3D尺寸。

8. 测量软件支持对接客户内部MES生产系统

测量软件支持通过二次开发对接客户内部MES生产系统,实现将测量设备关键测量数据集中上传至MES服务器,方便客户在MES端集中筛选、查询,也更便于客户进行检测数据统一管理及历史追溯;配备手动扫描枪,扫描各种加工产品的信息,并录入MES.

四、测试效果:

封装器件共面性测量仪测试效果.png

*特别声明:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。本产品资料仅用于学术分享和传递行业相关信息。未经授权,不得抄袭、篡改、引用、转载等侵犯相关权益的行为。内容仅供参考,如涉及版权问题,敬请联系,我们将在第一时间核实并处理。

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