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芯片引脚光学测量仪PZ-150DIP
产品名称：芯片引脚光学测量仪
产品型号：PZ-150DIP
仪器厂家：品智创思
一、产品概述：
共面性指表面组装元器件引脚垂直高度偏差，即引脚的最高脚底所成水平面与最低引脚的脚底形成的水平面之间的垂直距离。
PZ-150DIP手动影像共面性测试仪结构美观大方，操作简便，结合本公司自主研发的测量软件，可实现准确的元器件共面性、工件外形尺寸等测量，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求。
广泛应用于晶圆、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN）等元器件IC引脚共面性检测，以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。方便测量元器件引脚的平整度、元器件引脚的共面度、元器件引脚的位置度 ，引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量。 相对于其他产品系列比较而言，该系列具有结构简单、承载能力强、工件放置空间开阔、装卸便捷等特点。从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。
1.引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储，测试过程中，IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前，器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。
2.光学系统可对点、线、圆弧、圆、矩形、椭圆、键槽(腰型特征)、开曲线、闭曲线、平面、圆柱、圆锥、球等几何元素进行测量。
3.根据元素的实际特征，每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。
二、仪器原理：
芯片引脚光学测量仪PZ-150DIP是建立在CCD数位影像的基础上，通过物镜将被测目标物表面形成漫反射.使反射光在CMOS上成像后.通过检测位置及形状的变化测量位移及形状.简单来说就是通过相机传感器扫描出被测物体表面图像形貌.通过软件抓取点.得出平面度.依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的，从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来。
三、技术参数：
外形尺寸(mm）X/Y/Z：1100*968*1650
测量范围（X/Y/Z）：300×300×200
XY示值误差（um）：E1(x/y)=(2.5+L/200)
XY重复定位精度：±1um
Z示值误差（um)：Ez=（5+L/200)
工作台承重（kg）：30kg
仪器重量（kg）：128kg
图像传感器：230万高清数字CCD摄像机
物镜：手动变倍光学镜头
放大倍率光学放大倍率：0.7－4.5×；影像放大倍率：24-190×
工作距离（标配）：92mm
物方视场（标配）：22-1.7mm
光栅尺分辨率0.0005mm
传动系统：X.Y.Z轴丝杆传动
光 源：表面灯采用8区LED冷光源，各段独立操控，轮廓灯为LED透射平行光源，256级亮度均可调节
测量软件：INS-M测量软件
工作环境：温度20℃±2℃，温度变化<2℃/hr,湿度30~80%，振动<0.002g,低于15Hz
电 源：AC 100~220V 50/60HZ 10A
四、测试效果：
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